冷镜式
基准级原理:通过半导体制冷使镜面降温,直至镜面出现微量结露;光学系统检测到反射光变化,此时镜面温度即为露点。
✨ 特点:采用闭环控制维持镜面微量结露,直接物理测量,无需校准,是国际标准ISO 8573的一级参考方法。镜面通常镀金或镀铑,耐腐蚀且反射率高。
- 精度 ±0.1℃~±0.2℃
- 量程 -60℃ ~ +50℃
- 需定期清洁镜面
工作 原理
Working Principle

深入了解冷镜式、电容式、电阻/电解质式和晶体振荡式露点仪的工作机制。
原理:通过半导体制冷使镜面降温,直至镜面出现微量结露;光学系统检测到反射光变化,此时镜面温度即为露点。
✨ 特点:采用闭环控制维持镜面微量结露,直接物理测量,无需校准,是国际标准ISO 8573的一级参考方法。镜面通常镀金或镀铑,耐腐蚀且反射率高。
原理:高分子聚合物吸湿后介电常数变化,导致电容改变。通过测量电容换算出露点/相对湿度。
✨ 特点:感湿膜厚度仅数微米,响应迅速;内置温度传感器进行补偿,长期稳定性好,适合在线监测压缩空气、干燥机等。
原理:吸湿性电解质(如LiCl)涂覆在绝缘基片,吸湿后电阻变化;或氧化铝传感器利用多孔氧化铝层吸附水汽,阻抗反映水分压。
✨ 特点:特别适合极低露点(-100℃)的微量水测量,如高纯气体、SF6开关柜。氧化铝传感器灵敏度高,但需避免油污污染。
原理:石英晶体表面涂吸湿膜,吸湿后质量增加,振荡频率下降。频率变化对应露点/湿度。
✨ 特点:石英晶体微天平原理,分辨率极高,可测-100℃~+20℃露点,响应速度快,抗冷凝干扰能力强,适合半导体、科研等要求苛刻的场合。
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露点仪广泛应用于以下工业场景,确保生产过程的湿度控制。
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